仪器介绍
SPECTRO MIDEX M 配有高分辨的检测系统，并采用点对点激发，确保了仪器优异的分析性能。通过程序控制的四种准直系统，SPECTRO MIDEX M 可根据不同分析要求，来调节元素分布分析的分辨率。SPECTRO MIDEX M在单位时间内接收的荧光脉冲数量比传统技术多2倍，这样就可以在短短的几个小时内完成深入细致的元素分布分析。对于钠等轻元素的分析，可采用在分析点充入氦气的方法进行分析。SPECTRO MIDEX M 也非常适合于未知样品的点的快速分析，在2分钟内即可完成从钠到铀的全分析。
SPECTRO MIDEX M 不仅是生产过程中理想的分析仪器，也适合各种科学研究和实验室分析，它可以分析体积很小的样品、研究材料组成，测定样品表面的元素成分等。
技术参数
激发源
● Mo靶的X光管
● 风冷
● 最大功率：30W
● 最高电压：50kV
● 最大电流：0.8mA
● 测量点尺寸（程序控制）：0.2,0.6,1.0,2.0mm
样品室
● 长：540 mm
● 宽：600 mm
● 高：250 mm
● 双摄像机成像系统
● XYZ三轴步进马达驱动， 最大行程 250*250*150mm（10*10*6"）最小步进（分辨率）2.5μm
● 符合严格的ξ3 RoV(德国X射线标准)辐射防护标准
计算机
● 台式Pentium™ 计算机
● Windows™操作系统
● 键盘和鼠标
● 显示器
● 打印机
软件
● 菜单式软件，光谱仪参数调整和数据评估及计算，元素成分及分布显示
检测器
● Peltier 冷却的Si漂移半导体计数器
● 以Mn Kα线，在测量计数率为1000 脉冲计数时，能量分辨率为：FWHM<150 eV
● 最大计数率可达100,000 cps
其它规格
● 电压:100 -127或，200-240V,50/60 Hz,16A
● 光谱仪功率：500VA
● 仪器尺寸：
长：612 mm
宽：720 mm
高：790 mm
底座尺寸:
长：612 mm
宽：640 mm
重量：80 kg
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主要特点
仪器的样品台采用XYZ三轴步进马达驱动，可对大到250*250mm(10*10"样品的表面进行线性扫描和元素分布分析。专门设计的样品室，可适用于超大尺寸的样品分析，可在三个不同的方向观测样品。样品台可以整体拉出，便于调节样品位置。仪器内设有大倍率变焦双摄像系统，可准确地确定测量位置。仪器可以锁定样品的某个点或表面某个区域，然后进行扫描分析。SPECTRO MIDEX M配有独特的软件可评估测量点，并将所选定样品区域内的元素成分以图表形式显示出来。
SPECTRO MIDEX™ 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX™ 适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX™ 也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析
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产品详细资料 发布时间：2006-12-27 16:51:42 