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当前位置:首页 >> 产品中心 >> 光学仪器 >> SK2010精密零件测量系统
 产品详细资料 发布时间:2007-3-22 16:45:00 
SK2010精密零件测量系统
 

精密零件显微测量系统SK2010是一套集合了数位科技成果与计算机屏幕测量技术的数码投影测量系统,它应用了独有的双向同步倍率校正技术(专利), 采用独特同轴光、底光、侧光设计和具有投影与正像两种成像方式,可以测量在75*75mm范围内的零件局部.测量精度为±2um,调节倍率在30x-90x之间,解析度0.001mm.能够有效的解决了器件的误差和屏幕的局限和满足各种测量倍率的要求.产品已经达到业内领先科技的水平;是针对精密零件制造业日益精湛的加工工艺所带来的精确计量需求开发而成


SK2010精密零件测量系统

公司名称:深圳市赛克数码科技开发有限公司
联系电话:0755-89962830
联 系 人:辛飞
公司网址:www.cadcne.com
公司传真:未填写
公司地址:深圳市布吉龙泉别墅八区M2a
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